WL 64bit PCIE NVME NAND Flash Good Bad Testing Tool для iphone 5 5C 5S 6 6P 6S 6SP 7 7P 8 8P испытательный прибор
Характеристики
WL 64bit PCIE NVME NAND Flash Good Bad Testing Tool для iphone 5 5C 5S 6 6P 6S 6SP 7 7P 8 8P испытательный
Описание товара
Вариант (испытательное приспособление NAND): Пожалуйста, выберите правильный дополнительный испытательный прибор NAND
Вариант 1: 32 бит + 64 бит NAND испытательное приспособление, Поддержка iphone 5 5C 5S 6 6P
Вариант 2: PCIE NAND испытательный прибор, поддержка iphone 6 S-7P
Вариант 3: испытательный прибор NVME NAND, поддержка iphone 8-8P
Функция 1: 32 бит + 64 бит NAND испытательное приспособление для iphone 5 5C 5S 6 6P one NAND socket + 4 шт. основание для материнской платы
Функция 2: PCIE NAND испытательное приспособление для 6S 6SP 7 7P, одно гнездо NAND + 4 шт. основание для материнской платы
Функция 3: испытательный прибор NVME NAND для 8 8P, одно гнездо NAND + 2 шт. основание для материнской платы
32 бит + 64 бит iphone 5 5C 5S 6 6P NAND испытательный прибор, и iphone 6s 6sp 7 7p PCIE NAND тестовое гнездо
Ошибка восстановления iphone: 4014 (ошибка NAND), 9, 1 (ошибка материнской платы), 14 (ошибка обновления в itunes), 53 (отпечатки пальцев).
Примечание: разные коды ошибок в разных версиях программного обеспечения в формате itunes.
Управление:
1. Поместите материнскую плату на панель Nand Flash база тестера;
2. Контактное зарядное устройство и гибкий кабель;
3. Положите флэш-памяти Nand тестер насадки на база тестера плиты;
4. Поместите Nand Flash в тестерную головку;
5. Подключите компьютер, затем вы можете мигать, чтобы проверить Nand flash.
Примечание: при вставке Nand Flash в головку тестера, обратите внимание на правильное направление. В противном случае это повредит материнскую плату.
